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博士班公開演講公告
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【演講題目】
基於混合式影像處理與機器學習之晶片表面缺陷檢測與雷射打印異常溯源研究
Chip Defect Inspection and Laser Marking Traceability via Hybrid Vision and Machine Learning

【主 講 人】王孝中 博士候選人
【日 期】10 月 12 日（星期一）
【時 間】13:30
【地 點】明山講堂

~ 歡迎各位師生踴躍蒞臨參與 ~
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